главная » технологии » оптические измерительные системы
ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКАЯ СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ESPI  

Назначение:

Область применения:

Штамповочные производства, научно-исследовательские институты

  • оптимизация конструкций
  • определение линейных изменений, включая хрупкие материалы
  • анализ гетерогенных материалов
  • анализ перехода двух различных материалов
  • анализ качества ячеистых и структур многослойного материала

Принцип действия:

Система располагается перед исследуемым объектом. Поверхность объекта освещается лазерным лучом. При помощи камеры фиксируется набор интерференционных изображений. Деформация объекта измеряется на уровне микрометров, и фиксируется на изображениях, получаемых камерой. Результат измерений деформации большого числа точек отображается в графическом виде.

Технические характеристики:

ESPI SD-30/SD-10S

Измерительный объем [мм³]

10 x 8 - 600 x 450 

Расстояние от измерительной головки до объекта [мм]

 100-800

Размеры [мм³]

 220 x 220 x 300

Разрешение камеры [пикселей]

 1280 х 1024

Направление измерения ESPI SD-30

X, Y, Z

Направление измерения ESPI SD-10S

X или Y или Z

Точность [нм]

до 10

Лазер

3 х 50 мВт / 785 нм

 

Примеры:

 



Создание и дизайн сайта - веб-студия "Каспер"     © 2007-2024 гг. MCP Technology Center